NITTOSEIKO日東精工 電阻率測量儀器 MCP-T710型抗阻率計(jì)

NITTOSEIKO日東精工 電阻率測量儀器 MCP-T710型抗阻率計(jì)

Hiresta-UX 是一款測量電阻率的測量儀器，電阻率是材料的評估標(biāo)準(zhǔn)之一。

測量各種高阻材料的表面電阻率和體積電阻率對于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制和研發(fā)非常有用。

輕松準(zhǔn)確地測量材料的表面電阻率和體積電阻率，用于抗靜電材料研發(fā)、生產(chǎn)線質(zhì)量控制或材料。

該裝置采用符合JIS K6911的測量方法，可以使用各種探頭測量塑料、薄膜和油漆等多種材料。為了穩(wěn)定地測量

10 6

Ω以上的高電阻材料，最好使用雙環(huán)進(jìn)行測量。 我們的探頭采用雙環(huán)電極。

隨時(shí)隨地在需要時(shí)高精度測量高電阻區(qū)域的表面電阻率和體積電阻率。

與Hiresta UP（10 4至 10 13 ）相比，測量范圍擴(kuò)大至 10 3至 10 14 Ω

從 1 到 1000V 有 29 種不同的施加電壓。此外，通過施加電壓的自動(dòng)掃描功能，

可以測量電阻值的電壓特性。

主機(jī)內(nèi)置開關(guān)盒（測量體積電阻率時(shí)所需的可選項(xiàng)目）的功能。

只需連接收銀臺即可測量體積與體積比。

可以使用傳統(tǒng) Hiresta UP 的探頭。

可輸出2000個(gè)測量結(jié)果至USB存儲器

標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格

測量方法恒壓施加/漏電流測量方法

數(shù)據(jù)顯示640 x 480 點(diǎn) 7.5 英寸全彩 TFT LCD 觸摸屏

轉(zhuǎn)換器上、下限值可單獨(dú)設(shè)置

探測專用MCP探頭URS、UR、UR-SS、UR-100、UA、J盒X型

數(shù)據(jù)輸出USB存儲器

電源AC85~264V 47~63Hz

尺寸/重量W330×D270×H113mm

?。▋ξ锵浯蜷_時(shí)，W330×D270×H215mm） 約2.4kg

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備　URS 探頭：MCP-HTP14 探頭檢查器：MCP-TRURS

Loresta-GXII是一款測量電阻率的測量儀器，電阻率是材料的評估標(biāo)準(zhǔn)之一。

　隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，在研發(fā)、生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量控制等領(lǐng)域，越來越需要能夠輕松、快速、日益嚴(yán)格、高精度地管理材料。其中，電阻率（表面、體積、電導(dǎo)率）是表示材料狀態(tài)和性能的指標(biāo)。Loresta-GXII 是一種可以使用校正系數(shù)輕松準(zhǔn)確地測量電阻率的設(shè)備。

   該裝置采用符合JIS K 7194的測量方法，可以使用各種探頭測量導(dǎo)電塑料、ITO薄膜和硅晶片等多種材料。

   與傳統(tǒng)的4端子法不同，無需為測量對象準(zhǔn)備電極，使用本公司提供的各種4探針探頭，即可一鍵測量電阻率。

主要測量目標(biāo)

■導(dǎo)電塑料、電磁屏蔽材料、硅片、導(dǎo)電橡膠、
導(dǎo)電涂料、漿料、油墨、金屬薄膜、ITO玻璃、薄膜等。

可以隨時(shí)隨地以高精度測量低電阻區(qū)域的表面電阻率、體積電阻率（比電阻）和電導(dǎo)率。

• 與Loresta GP（10 -3至 10 7 ）相比，測量范圍從 10 -4擴(kuò)大至 10 7 Ω

• 通過改變電流方向即可測量硅片

• 恒定電流可變功能（可使用微小電流進(jìn)行樣品測量）

• 可輸出2000個(gè)測量結(jié)果至USB存儲器

• 通過觸摸屏提高操作性

•